热电材料
发表时间：2019-09-08
使用Hot Disk技术可以很容易地测试小型热电样品。在这个例子中测试了两组热压Bi?Te?, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度。
样品信息
两组热压Bi?Te?, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度
方法
基本模块，室温测试。使用7577型号Kapton探头来匹配样本大小。探头半径2mm能允许径向探测深度4mm，轴向探测深度3.5 mm，因此厚度限制了可用探测深度。样品表面经过轻砂处理，以确保光滑的界面和良好的热接触。探头被放置在样品两块样品中心，并牢牢夹住。
测试
对每个样品组进行一次初始测试，测试时间为4秒，加热功率为50 mW。该加热功率被证实可使p型和n型样品的最终温度升高接近3 K。对于n型试样，测量时间缩短为3秒，使探测深度保持在试样边界内。
准确试验按下表进行，反复试验间隔15分钟:
最终结果
最终结果经过计算后（选点40-180），如下表所示：
n型Bi?Te?显示了比p型样品更高的导热系数,。p型样品的体积比热是略低于理论(1.187 MJ / m³K) ,而n型标品更低。这可能是由于n型样品的密度较低或各向异性较大所致。
